对该系列PI薄膜进行X射线（XRD）测试表征，分析其聚集态结构的变化情况。
经过试验，PI薄膜的XRD曲线中相对强而尖锐的衍射峰集中出现在2θ为100° ~ 300°，且其强度及尖锐程序随着DAPBO单体含量的增加而逐渐增强， 表明该类型的PI薄膜在一定程度上开始具有结晶性。其中，相对于PI-10-0而言，PI-8-2XRD曲线上的衍射峰强度较弱，而PI-4-6、PI-1-9、P[-0-10薄膜XRD曲线上的衍射峰强度依次增强。这可能是由于PI-10-0中仅含有PDA和ODA两种二胺单体，两者与二酐单体s-BPDA进行无序反应，形成具有一定空间位阻效应的分子链堆积结构，而微量DAPBO单体的加人，与s-BPDA形成了新的直线型结构s-BPDA/DAPBO分子链，此时虽没有形成长程有序结
构，却打乱了原有重复单元中的有序结构，不利于结晶的形成，因此PI-8-2 XRD曲线上的衍射峰减弱。随着DAPBO单体的不断加入，形成越来越多的直线型s-BPDA/DAPBO分子链，在高温亚胺化的过程中形成了很强的分子链间作用力和长程有序结构，分子链间的强相互作用作为物理交联点，限制了链段的运动，使得分子链间堆砌密度增大，宏观表现为相对较高的结晶度，因此对应的XRD曲线上衍射峰变得强而尖锐。
